產(chǎn)品描述
注冊(cè)信息
X射線平板探測(cè)系統(tǒng)是***種用于醫(yī)學(xué)診斷和工業(yè)檢測(cè)的先進(jìn)成像設(shè)備。該系統(tǒng)利用X射線平板探測(cè)器接收和轉(zhuǎn)換X射線成像信息,生成高質(zhì)量的數(shù)字影像。以下是關(guān)于X射線平板探測(cè)系統(tǒng)的詳細(xì)介紹:
系統(tǒng)組成
X射線源:產(chǎn)生X射線,穿透被檢測(cè)物體。
平板探測(cè)器:接收穿過物體的X射線,并將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。
ZYNQ主控板:結(jié)合FPGA和ARM?。茫铮颍簦澹粒固幚砥?,負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)處理和系統(tǒng)控制。
上位機(jī)軟件:用于圖像處理、顯示和分析。
硬件架構(gòu)
ZYNQ主控板:采用雙核架構(gòu),具備高性能計(jì)算能力和靈活的編程能力。
高速數(shù)據(jù)傳輸接口:如PCIe和GigE,確保數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)傳輸和處理。
軟件算法
圖像處理算法:包括去噪、增強(qiáng)、校正等,提高圖像的清晰度和對(duì)比度。
數(shù)據(jù)處理算法:高效的信號(hào)處理和圖像重構(gòu)算法,實(shí)現(xiàn)對(duì)X射線數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)處理和分析。
應(yīng)用場(chǎng)景
醫(yī)學(xué)診斷:用于X射線透視檢查、熒光學(xué)檢查、乳腺檢查等。
工業(yè)檢測(cè):用于無損探傷、航空航天、野外作業(yè)等領(lǐng)域。
對(duì)(X射線平板探測(cè)系統(tǒng))詢價(jià),索?。ǎ厣渚€平板探測(cè)系統(tǒng))彩頁(yè),(X射線平板探測(cè)系統(tǒng))需要維修,需要授權(quán),請(qǐng)聯(lián)系我們總部客服轉(zhuǎn)接:400-901-5099
溫馨提示:1.X射線平板探測(cè)系統(tǒng)可能含有禁忌內(nèi)容或者注意事項(xiàng),具體詳見說明書;2.購(gòu)買X射線平板探測(cè)系統(tǒng)后應(yīng)仔細(xì)閱讀X射線平板探測(cè)系統(tǒng)說明書或者在醫(yī)務(wù)人員的指導(dǎo)下購(gòu)買和使用;3.以上X射線平板探測(cè)系統(tǒng)內(nèi)容均來自于生產(chǎn)廠***、代理商網(wǎng)站不作為宣傳購(gòu)買依據(jù)如與X射線平板探測(cè)系統(tǒng)說明書有沖突的,均以X射線平板探測(cè)系統(tǒng)利說明書為準(zhǔn);
以下為公司資質(zhì):
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